本文主要介紹熱處理晶粒度檢測(cè)中，截點(diǎn)法的操作方法，介紹金相分析軟件中部分晶粒度測(cè)量的方式。

1、截點(diǎn)法的分類及應(yīng)用中的注意事項(xiàng)

（1）直線截點(diǎn)法注意事項(xiàng)

一條或數(shù)條直線，適當(dāng)?shù)臏y(cè)量網(wǎng)格長(zhǎng)度和放大倍數(shù)，保證至少能截獲50個(gè)截點(diǎn)。

截點(diǎn)的計(jì)算。

選擇3-5個(gè)視場(chǎng)進(jìn)行測(cè)量。

非等軸晶粒的測(cè)量。

（2）單圓截點(diǎn)法注意事項(xiàng)

適用于試樣不同位置晶粒度有明顯差別的材料。

使用的測(cè)量網(wǎng)格圓可以為任一周長(zhǎng)，通常使用100mm， 200mm，250mm。

選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù)，以保證每個(gè)圓周產(chǎn)生35個(gè)左右截點(diǎn)。

所需的幾個(gè)圓周任意分布在盡可能大的檢驗(yàn)面上，視場(chǎng)數(shù)增加直至獲得計(jì)算精度。

（3）三圓截點(diǎn)法注意事項(xiàng)

試驗(yàn)表明，每個(gè)試樣截點(diǎn)計(jì)數(shù)達(dá)500時(shí)，常獲得可靠的精確度。

測(cè)量網(wǎng)格由3個(gè)同心等距，總周長(zhǎng)為500mm的圓組成。將網(wǎng)格用于測(cè)量任意選擇的無(wú)個(gè)視場(chǎng)上，分別記錄每次的截點(diǎn)數(shù)。

選擇適當(dāng)?shù)姆糯蟊稊?shù)，使三個(gè)圓的試樣網(wǎng)格在每個(gè)視場(chǎng)上產(chǎn)生50-100個(gè)截點(diǎn)計(jì)數(shù)，使通過(guò)選擇的5個(gè)視場(chǎng)可獲得400-500個(gè)總截點(diǎn)數(shù)。

測(cè)量網(wǎng)格通過(guò)三個(gè)晶粒匯合點(diǎn)時(shí)，截點(diǎn)計(jì)數(shù)為2個(gè)。

2、非等軸晶試樣晶粒度的測(cè)定

（1）對(duì)于矩形的棒材或板材晶粒應(yīng)在其縱向、橫向、及法相截面上進(jìn)行測(cè)定，圓棒材應(yīng)在縱向和橫向上測(cè)定。如果等軸偏差不大（3:1形狀比），可在縱向試樣上使用圓形測(cè)量網(wǎng)格進(jìn)行分析。如果使用直線取向測(cè)量網(wǎng)格進(jìn)行測(cè)定，可使用三個(gè)主要截面的任意兩個(gè)面進(jìn)行三個(gè)取向的測(cè)量。

（2）面積法

n_平  =（n_橫n_縱n_法）^1/3  

n_平 ：每mm² 內(nèi)的平均晶粒數(shù)。

G=3.322lgn_平  -2.9542

（3）截點(diǎn)法

可使用圓測(cè)量網(wǎng)格隨機(jī)地放在三個(gè)主檢測(cè)面上進(jìn)行?；蚴褂弥本€段在3個(gè)或6個(gè)主方向上2個(gè)或3個(gè)主檢測(cè)面上進(jìn)行截點(diǎn)計(jì)數(shù)。對(duì)于等軸形狀偏離不太嚴(yán)重（≤3:1形狀比）的晶粒度的測(cè)量使用圓測(cè)量網(wǎng)格在縱向面上進(jìn)行測(cè)量。

晶粒度測(cè)量中，測(cè)量直線的6種可能取向

截點(diǎn)法晶粒度的計(jì)算

G=6.6439lgp₁ -3.288

p₁  =（p_1l ·p_1t ·p_1n）^1/3

p_1l  、p_1t  、p_1n  分別為縱向、橫向、法相基本平面上單位長(zhǎng)度的截點(diǎn)數(shù)。

通過(guò)截點(diǎn)數(shù)，計(jì)算出平均截距，可以確定晶粒伸長(zhǎng)率和各向異性系數(shù)。

3、晶粒度數(shù)值的表示方法

1）通常以晶粒平均直徑，平均截距，晶粒平均截面積及晶粒度級(jí)別數(shù)G來(lái)表示。

2）因?yàn)榫Я６鹊母鞣N數(shù)值表示都是由初測(cè)值n_a（每mm²內(nèi)的平均晶粒數(shù)）或p₁（每mm內(nèi)的截點(diǎn)數(shù)）的對(duì)數(shù)或倒數(shù)的關(guān)系求出。所以表示一組試樣的晶粒度，不能簡(jiǎn)單地將各個(gè)晶粒度計(jì)數(shù)值進(jìn)行平均。

3）若試樣中發(fā)現(xiàn)晶粒不均勻現(xiàn)象，經(jīng)全面觀察后，如屬偶然或個(gè)別現(xiàn)象，可不予計(jì)算。如較為普遍，則應(yīng)計(jì)算出不同級(jí)別晶粒在視場(chǎng)中各占的面積百分比。若晶粒所占的面積百分比不少于視場(chǎng)面積的90%，則只記錄次一種晶粒的級(jí)別數(shù)。否則，應(yīng)用不同級(jí)別數(shù)來(lái)表示該試樣的晶粒度，其中第一個(gè)級(jí)別數(shù)代表占優(yōu)勢(shì)的級(jí)別數(shù)。

4）如需要對(duì)混合晶粒度評(píng)定時(shí)，可將混合各部分的晶粒分別按單峰分布評(píng)定平均晶粒度，并測(cè)定各部分的晶粒所占的百分比。如8級(jí)70%，3級(jí)30%。

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